GB/T 15297-1994 微电路模块机械和气候试验方法

标准详情:

GB/T 15297-1994

国家标准推荐性
  • 中文名称:微电路模块机械和气候试验方法
  • CCS分类:L55
    ICS分类:31.200
  • 发布日期:1994-12-06
    实施日期:1995-07-01
  • 代替标准:
  • 技术归口:全国半导体器件标准化技术委员会
    发布部门:工业和信息化部(电子)
  • 标准分类:电子学集成电路、微电子学

内容简介

国家标准《微电路模块机械和气候试验方法》由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口,主管部门为工业和信息化部(电子)。

起草单位

上海无线电七厂、

起草人

相近标准

20201540-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第10部分:机械冲击
SJ/T 11379-2008 等离子体显示器件 第4部分:气候和机械试验方法
20193135-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第7部分:内部水汽测量和其他残余气体分析
20193134-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第8部分:密封
20162479-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第34部分:功率循环
20141818-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第25部分:温度循环
20201547-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第29部分:闩锁试验
20201541-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第36部分:稳态加速度
20221813-T-469 模锻锤和大型机械锻压机用模块 技术规范
20204847-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第40部分:采用应变仪的板级跌落试验方法

* 特别声明:资源收集自网络或用户上传,版权归原作者所有,如侵犯您的权益,请联系我们处理。

「在线纠错」

「相关推荐」