GB/Z 26083-2010 八辛氧基酞菁铜分子在石墨表面吸附结构的测试方法（扫描隧道显微镜）

标准详情：

GB/Z 26083-2010

国家标准指导性技术文件

中文名称：八辛氧基酞菁铜分子在石墨表面吸附结构的测试方法（扫描隧道显微镜）
CCS分类：G04
ICS分类：17.040.20
发布日期：2011-01-10
实施日期：2011-10-01
代替标准：
技术归口：全国纳米技术标准化技术委员会
发布部门：中国科学院
标准分类：计量学和测量、物理现象长度和角度测量表面特征

内容简介

国家标准《八辛氧基酞菁铜分子在石墨表面吸附结构的测试方法（扫描隧道显微镜）》由TC279（全国纳米技术标准化技术委员会）归口，主管部门为中国科学院。
本指导性技术文件规定了利用扫描隧道显微镜检测八辛氧基酞菁铜分子在石墨表面吸附结构的原理、术语及定义、探针和基底制备、样品制备、测试条件、测试步骤、图像分析以及结果表示等。本指导性技术文件适用于在常温(10℃～35℃)和1个大气压环境条件下，用扫描隧道显微镜测试八辛氧基酞菁铜分子在石墨表面的吸附结构。注；八辛氧基酞菁铜分子[copper(Ⅱ)octaalkoxyl-substituted phthalocyanine，简写为CuPcOC8，化学结构见图2)是酞菁类分子中的一种，应用于光电等研究领域．

起草单位

中国科学院化学研究所（分子纳米结构与纳米技术院重点实验室）、国家纳米科学中心、

起草人

严会娟、任玲玲、雷圣宾、万立骏、

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