GB/T 43883-2024 微束分析分析电子显微术金属中纳米颗粒数密度的测定方法

标准详情：

GB/T 43883-2024

国家标准推荐性

中文名称：微束分析分析电子显微术金属中纳米颗粒数密度的测定方法
CCS分类：N33
ICS分类：71.040.99
发布日期：2024-04-25
实施日期：2024-11-01
代替标准：
技术归口：全国微束分析标准化技术委员会
发布部门：国家标准委
标准分类：化工技术分析化学有关分析化学的其他标准

内容简介

国家标准《微束分析分析电子显微术金属中纳米颗粒数密度的测定方法》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准委。
本文件描述了应用透射电子显微镜／扫描透射电子显微镜（TEM/STEM）技术测定金属材料中纳米级第二相颗粒数密度的方法。本文件适用于测定金属材料中弥散分布、粒径在几纳米至几十纳米范围的第二相颗粒的数密度。被测颗粒的平均尺寸宜在透射电镜试样厚度的约1/3以下，且试样中的颗粒在透射电镜图像上没有互相重叠或很少重叠。颗粒尺寸不在这个范围的试样可参照执行，其他晶体材料可参照执行。本方法不适于测定聚集成团的第二相颗粒的数密度。

起草单位

中国航发北京航空材料研究院、牛津仪器科技(上海)有限公司、北京科技大学、

起草人

娄艳芝、柳得橹、徐宁安、

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