GB/T 45114-2024 纳米技术透射电子显微术测量纳米颗粒粒度及形状分布

标准详情：

GB/T 45114-2024

国家标准推荐性

中文名称：纳米技术透射电子显微术测量纳米颗粒粒度及形状分布
CCS分类：G30
ICS分类：17.180
发布日期：2024-12-31
实施日期：2025-07-01
代替标准：
技术归口：全国纳米技术标准化技术委员会
发布部门：中国科学院
标准分类：计量学和测量、物理现象光学和光学测量

内容简介

国家标准《纳米技术透射电子显微术测量纳米颗粒粒度及形状分布》由TC279（全国纳米技术标准化技术委员会）归口，主管部门为中国科学院。
本文件规定了采集、测量和分析透射电子显微镜(简称“透射电镜”)图像，获得纳米颗粒粒度和形状分布的方法。本文件适用于纳米物体以及尺寸大于100 nm的颗粒，具体适用范围取决于所需不确定度和透射电子显微镜性能。

起草单位

中国计量科学研究院、河南科技大学、北京市科学技术研究院分析测试研究所（北京市理化分析测试中心）、山东省计量科学研究院、上海交通大学、西南科技大学、测试狗（成都）实验检测有限公司、中铝科学技术研究院有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、清华大学深圳国际研究生院、中南大学、南京市计量监督检测院、

起草人

李旭、任玲玲、黄鹭、娄花芬、刘伟丽、李适、郭新秋、刘俊杰、雷前、高思田、王亚磊、张毅、王宇婷、莫永达、曹丛、马拥军、王俪颖、赵东艳、梁霄鹏、施玉书、崔磊、

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