GB/T 40128-2021 表面化学分析原子力显微术二硫化钼片层材料厚度测量方法

标准详情：

GB/T 40128-2021

国家标准推荐性

中文名称：表面化学分析原子力显微术二硫化钼片层材料厚度测量方法
CCS分类：G04
ICS分类：71.040.40
发布日期：2021-05-21
实施日期：2021-12-01
代替标准：
技术归口：全国微束分析标准化技术委员会
发布部门：国家标准化管理委员会
标准分类：化工技术分析化学化学分析

内容简介

国家标准《表面化学分析原子力显微术二硫化钼片层材料厚度测量方法》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口，TC38SC2（全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分会）执行，主管部门为国家标准化管理委员会。
本文件规定了利用原子力显微术测量层状二硫化钼纳米片厚度的测量方法。本文件适用于转移或生长在固体衬底表面的层状二硫化钼纳米片厚度的测量，测量范围从单层二硫化钼纳米片至厚度不大于100nm，其他类似的纳米片层材料厚度测量也可参照此方法进行。

起草单位

国家纳米科学中心、上海市计量测试技术研究院、上海纳米技术及应用国家工程研究中心有限公司、北京粉体技术协会、

起草人

朱晓阳、朱君、蔡潇雨、周素红、常怀秋、齐笑迎、

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