GB/T 32998-2016 表面化学分析 俄歇电子能谱 荷电控制与校正方法报告的规范要求
标准详情:
GB/T 32998-2016
国家标准推荐性现行
- 中文名称:表面化学分析 俄歇电子能谱 荷电控制与校正方法报告的规范要求
- CCS分类:G04
- ICS分类:71.040.40
- 发布日期:2016-10-13
- 实施日期:2017-09-01
- 代替标准:
- 技术归口:全国微束分析标准化技术委员会
- 发布部门:国家标准化管理委员会
- 标准分类:化工技术分析化学化学分析
内容简介
国家标准《表面化学分析 俄歇电子能谱 荷电控制与校正方法报告的规范要求》由TC38(全国微束分析标准化技术委员会)归口,TC38SC2(全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分会)执行,主管部门为国家标准化管理委员会。
本标准规定了在电子激发绝缘样品的俄歇电子能谱测量中,描述荷电控制方法所需的最少信息,该信息也一并报告在分析结果中。参见附录A提供的现有的AES分析前或分析期间荷电控制的有用方法。表A.1对各种方法和途径进行了总结,并依方法的简单性排列。表A.1中的一些方法对大多数仪器是可用的,一部分则需要特殊的硬件,还有部分可能涉及样品的重装或变动。
起草人
张增明、丁泽军、达博、张鹏、毛世峰、曾荣光、阮瞩、唐涛、
相近标准
GB/T 25185-2010 表面化学分析 X射线光电子能谱 - 荷电控制和荷电校正方法的报告
GB/T 32565-2016 表面化学分析 俄歇电子能谱(AES)数据记录与报告的规范要求
20214943-T-469 表面化学分析 俄歇电子能谱和x 射线光电子能谱 测定峰强度的方法 和报告结果所需的信息
20221773-T-469 表面化学分析 俄歇电子能谱 选择仪器性能参数的表述
GB/T 28893-2012 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 测定峰强度的方法和报告结果所需的信息
GB/Z 32494-2016 表面化学分析 俄歇电子能谱 化学信息的解析
GB/T 21006-2007 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标的线性
GB/T 28632-2012 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率测定
GB/T 25187-2010 表面化学分析 俄歇电子能谱 - 选择仪器性能参数的表述
JB/T 6976-1993 俄歇电子能谱术元素鉴定方法
* 特别声明:资源收集自网络或用户上传,版权归原作者所有,如侵犯您的权益,请联系我们处理。
- 标准质量:
下载说明
- ① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准,期待。
② 仅供网友学习交流,若侵犯了您的权益,请联系我们予以删除。