标准号标准名称标准状态发布时间实施时间
- GB/T 17206-1998电子设备用固定电容器 第18部分:分规范 固体(MnO2)与非固体电解质片式铝固定电容器
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1998-01-191998-09-01 - GB/T 17210-1998电子设备用机电开关 第2部分:旋转开关分规范 第一篇 空白详细规范
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1998-01-191998-09-01 - GB/T 17209-1998电子设备用机电开关 第2部分:旋转开关分规范
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1998-01-191998-09-01 - GB/T 12560-1999半导体器件 分立器件分规范
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1999-08-022000-03-01 - GB/T 17711-1999钇钡铜氧(123相)超导薄膜临界温度Tc的直流电阻试验方法
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1999-03-131999-10-01 - GB/T 6427-1999压电陶瓷振子频率温度稳定性的测试方法
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1999-05-191999-12-01 - GB/T 6426-1999铁电陶瓷材料电滞回线的准静态测试方法
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1999-05-191999-12-01 - GB/T 5597-1999固体电介质微波复介电常数的测试方法
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1999-05-191999-12-01 - GB/T 17562.1-1998频率低于3 MHz的矩形连接器 第1部分 总规范 一般要求和编制有质量评定要求的连接器详细规范的导则
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1998-11-171999-07-01 - GB/T 2414.2-1998压电陶瓷材料性能试验方法 长条横向长度伸缩振动模式
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1998-11-101999-07-01 - GB/T 2414.1-1998压电陶瓷材料性能试验方法 圆片径向伸缩振动模式
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1998-11-101999-07-01 - GB/T 9424-1998半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第五篇 CMOS数字集成电路4000B和4000UB系列空白详细规范
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1998-11-171999-06-01 - GB/T 7576-1998半导体器件 分立器件 第7部分:双极型晶体管 第四篇 高频放大管壳额定双极型晶体管空白详细规范
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1998-11-171999-06-01 - GB/T 6590-1998半导体器件 分立器件 第6部分:闸流晶体管 第二篇 100A以下环境或管壳额定的双向三极闸流晶体管空白详细规范
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1998-11-171999-06-01 - GB/T 6352-1998半导体器件 分立器件 第6部分:闸流晶体管 第一篇 100A以下环境或管壳额定反向阻断三极闸流晶体管空白详细规范
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1998-11-171999-06-01 - GB/T 6351-1998半导体器件 分立器件 第2部分:整流二极管 第一篇 100A以下环境或管壳额定整流二极管(包括雪崩整流二极管)空白详细规范
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1998-11-171999-06-01 - GB/T 6219-1998半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管 第一篇 1 GHz、5 W以下的单栅场效应晶体管 空白详细规范
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1998-11-171999-06-01 - GB/T 6217-1998半导体器件 分立器件 第7部分:双极型晶体管 第一篇 高低频放大环境额定的双极型晶体管空白详细规范
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1998-11-171999-06-01 - GB/T 17866-1999掩模缺陷检查系统灵敏度分析所用的特制缺陷掩模和评估测量方法准则
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1999-09-132000-06-01 - GB/T 17865-1999焦深与最佳聚焦的测量规范
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1999-09-132000-06-01