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标准号标准名称标准状态发布时间实施时间
  • GB/T 25076-2010太阳电池用硅单晶
    废止
    2010-09-022011-04-01
  • GB/T 14139-2009硅外延片
    废止
    2009-10-302010-06-01
  • GB/T 12963-2009硅多晶
    废止
    2009-10-302010-06-01
  • GB/T 2881-2008工业硅
    废止
    2008-03-312008-09-01
  • GB/T 11094-2007水平法砷化镓单晶及切割片
    废止
    2007-09-112008-02-01
  • GB/T 11071-2006区熔锗锭
    废止
    2006-07-182006-11-01
  • GB/T 11070-2006还原锗锭
    废止
    2006-07-182006-11-01
  • GB/T 11069-2006高纯二氧化锗
    废止
    2006-07-182006-11-01
  • GB/T 20228-2006砷化镓单晶
    废止
    2006-04-212006-10-01
  • GB/T 12962-2005硅单晶
    废止
    2005-09-192006-04-01
  • GB/T 12965-2005硅单晶切割片和研磨片
    废止
    2005-09-192006-04-01
  • GB/T 12964-2003硅单晶抛光片
    废止
    2003-06-162004-01-01
  • GB/T 19199-2003半绝缘砷化镓单晶中碳浓度的红外吸收测试方法
    废止
    2003-06-162004-01-01
  • GB/T 8646-1998半导体键合铝-1%硅细丝
    废止
    1998-07-151999-02-01
  • GB/T 17169-1997硅抛光片和外延片表面质量光反射测试方法
    废止
    1997-12-221998-08-01
  • GB/T 17170-1997非掺杂半绝缘砷化镓单晶深能级EL2浓度红外吸收测试方法
    废止
    1997-12-221998-08-01
  • GB/T 8750-1997半导体器件键合金丝
    废止
    1997-12-221998-08-01
  • GB/T 1555-1997半导体单晶晶向测定方法
    废止
    1997-12-221998-08-01
  • GB/T 1558-1997硅中代位碳原子含量红外吸收测量方法
    废止
    1997-12-221998-08-01
  • GB/T 12962-1996硅单晶
    废止
    1996-11-041997-04-01
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