GB/T 44924-2024 半导体集成电路 射频发射器/接收器测试方法

标准详情:

GB/T 44924-2024

国家标准推荐性
  • 中文名称:半导体集成电路 射频发射器/接收器测试方法
  • CCS分类:L56
    ICS分类:31.200
  • 发布日期:2024-12-31
    实施日期:2025-04-01
  • 代替标准:
  • 技术归口:全国集成电路标准化技术委员会
    发布部门:工业和信息化部(电子)
  • 标准分类:电子学集成电路、微电子学

内容简介

国家标准《半导体集成电路 射频发射器/接收器测试方法》由TC599(全国集成电路标准化技术委员会)归口,主管部门为工业和信息化部(电子)。
本文件规定了半导体集成电路射频发射器和接收器(以下简称器件)的电特性测试方法的基本原理和测试程序。本文件适用于具有接收功能、发射功能、收发一体功能的一次变频射频发射器/接收器,其他类型的发射器和接收器可参考使用。

起草单位

中国电子科技集团公司第二十四研究所、中国电子科技集团公司第十四研究所、成都振芯科技股份有限公司、重庆西南集成电路设计有限责任公司、中国电子科技集团公司第三十八研究所、深圳市晶峰晶体科技有限公司、

起草人

苏良勇、 王露、 戚园、 刘丹、 陈翔、 刘晓政、 唐景磊、阳润、许娟、苏巧、范超、高青、

相近标准

20242556-T-339 半导体集成电路 嵌入式非易失性存储器测试方法
SJ/T 11702-2018 半导体集成电路 串行外设接口测试方法
SJ/T 10805-2018 半导体集成电路 电压比较器测试方法
SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理
SJ/T 11706-2018 半导体集成电路 现场可编程门阵列测试方法
JB/T 5580-1991 半导体集成电路机电仪专用数字电路测试方法
SJ/T 10805-2000 半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
SJ/T 10804-2000 半导体集成电路 电平转换器测试方法的基本原理
GB/T 42838-2023 半导体集成电路 霍尔电路测试方法
GB/T 14028-2018 半导体集成电路 模拟开关测试方法

* 特别声明:资源收集自网络或用户上传,版权归原作者所有,如侵犯您的权益,请联系我们处理。

「在线纠错」

「相关推荐」