标准号标准名称标准状态发布时间实施时间
- SJ/T 2658.5-2015半导体红外发射二极管测量方法 第5部分:串联电阻
- 现行
2015-10-102016-04-01 - SJ/T 2658.11-2015半导体红外发射二极管测量方法 第11部分:响应时间
- 现行
2015-10-102016-04-01 - SJ/T 2658.10-2015半导体红外发射二极管测量方法 第10部分:调制带宽
- 现行
2015-10-102016-04-01 - SJ/T 2658.2-2015半导体红外发射二极管测量方法 第2部分:正向电压
- 现行
2015-10-102016-04-01 - SJ/T 2658.12-2015半导体红外发射二极管测量方法 第12部分:峰值发射波长和光谱辐射带宽
- 现行
2015-10-102016-04-01 - SJ/T 2658.1-2015半导体红外发射二极管测量方法 第1部分:总则
- 现行
2015-10-102016-04-01 - SJ/T 2658.13-2015半导体红外发射二极管测量方法 第13部分:辐射功率温度系数
- 现行
2015-10-102016-04-01 - SJ/T 2658.9-2015半导体红外发射二极管测量方法 第9部分:辐射强度空间分布和半强度角
- 现行
2015-10-102016-04-01 - SJ/T 2658.4-2015半导体红外发射二极管测量方法 第4部分:总电容
- 现行
2015-10-102016-04-01 - SJ/T 2658.3-2015半导体红外发射二极管测量方法 第3部分:反向电压和反向电流
- 现行
2015-10-102016-04-01 - SJ/T 2658.6-2015半导体红外发射二极管测量方法 第6部分:辐射功率
- 现行
2015-10-102016-04-01 - SJ/T 2658.8-2015半导体红外发射二极管测量方法 第8部分:辐射强度
- 现行
2015-10-102016-04-01 - SJ/T 2214-2015半导体光电二极管和光电晶体管测试方法
- 现行
2015-04-302015-10-01 - SJ/T 2216-2015硅光电二极管技术规范
- 现行
2015-04-302015-10-01 - SJ/T 11486-2015小功率LED芯片技术规范
- 现行
2015-04-302015-10-01 - JB/T 11623-2013平面厚膜半导体气敏元件
- 现行
2013-12-312014-07-01 - JB/T 8949.2-2013普通整流管 第2部分:平板形器件
- 现行
2013-04-252013-09-01 - JB/T 8949.1-2013普通整流管 第1部分:螺栓形器件
- 现行
2013-04-252013-09-01 - JB/T 4193-2013快速晶闸管
- 现行
2013-04-252013-09-01 - JB/T 8950.2-2013普通晶闸管 第2部分:平板形器件
- 现行
2013-04-252013-09-01